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多功能原子力显微镜
多功能原子力显微镜
英文名称:总访问:1445
国产/进口:进口半年访问:53
产地/品牌:美国/瑞宇产品类别:电子显微镜/扫描探针
型       号:AFM+ 最后更新:2019-7-18
货       号:
参考报价:800000
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销售商: 北京瑞宇科技有限公司 察看该公司一切产品 >>
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  • 公司简介

        原子力显微镜是一种用来研究原料外貌结构的分析仪器。它通过待测样品外貌和一个微型力敏锐元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的外貌结构及性质,从而在扫描样品时获得样品外貌纳形态的纳米级结构信息及粗糙度信息。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜能够提供全面的原子力显微功能,包含一切常规成像模式,独占的三轴独立闭环扫描器能获得既具有高分辨率又仅有低噪音的高质量图像,完全幸免了传统的管式扫描固有的耦合误差等缺陷。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜安装简单,操作方便,预装悬臂使原子力探针安装一步到位,主动下针,软件移动样品台实现高效率地区定位,界面简单,没有纷乱的软件界面和参数设置。只需要简单的几个参数设计就能够快速成像,强大的光学显微镜和直观的软件使用户非常方便的猎取样品外貌图像信息,

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜扩展功能强大,能够与多种模块结合,完成纳米级的红外光谱分析、红外汲取光谱成像、电学,磁学,纳米力学等各种原料微区物理性能的表征,应用范围非常普遍。是实现博坊 在线娱乐平台原料纳米尺度研究最基本的研究手段之一。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜具有专利热探针技术,配备的纳米热分析模块,可提供纳米尺度热改变温度测量和原位热加工,方便快速的对软质原料如共混物/混合物/多层膜等进行局部热分析鉴定。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜和LCR力学性能检测模块结合,能够进行快速宽频的纳米机械光谱分析,多组分试样能够在多种频率下成像,每种成分都能够被单独的识别和成像,方便快速的获得异质原料如共混物、混合物等各组分的分布情况。

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜能够进一步升级具有纳米尺度红外光谱检测(nanoIR)或散射式光学近场显微镜功能(s-SNOM),nanoIR将红外光谱技术和原子力显微镜结合到一起,具有100nm以下红外光谱采集和红外汲取成像能力。s-SNOM具有10nm分辨率近场光学成像能力。升级后,系统可同时具有外貌形貌表征、热改变温度检测、力学性能检测和微区成分检测功能。

 

主要参数:

平面扫描范围:<80x80um

平面分辨率:<0.2nm

纵向扫描范围:>6um

纵向分辨率:<0.2nm

高度噪音:<50pm

载物台:7mmx9mm,马达主动操纵

工作模式:接触模式、非接触模式、敲击模式

标准模块:相位、横向力(摩擦)、力曲线、力调制、静电力和磁力模块

选配模块:导电力模式,外貌电势模块

光学分辨率:1.5um

光学显微镜最大可视场: ~900x600um

 

 


应用:

生物研究,生物细胞外貌形态观察

晶体生长机理研究

金属及半导体外貌形态、外貌重构、外貌电子态研究

现场电化学研究

各类粉体原料及多晶固体原料的微区形貌表征及纳米性能研究

高分子等复合原料应用的纳米微区形貌和性能表征研究

电池原料、催化剂原料、纳米原料的微区形貌与性能分析

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